The most important device used in this study is the secondaryイオンプローブとしても知られるchang'e-6サンプルの年齢と同位体組成を測定するイオン質量分析計。現在、国際地質研究の分野で最も最先端の機器です。

イオンプローブ解析は、サンプル表面を砲撃する高エネルギーの一次イオンビームであり、二次イオンを生成するためにスパッタリングします。これらの荷電粒子が質量分析器によって分離された後、それらは最終的に検出器に到着し、それによりサンプル表面の材料組成の正確な分析を実現します。